LabView. Практикум по основам измерительных технологий | Жарков

Код товара 2047430
АвторЖарков
Издательство Дмк
Год выпуска2010
ISBN978-5-94074-498-6
Оформлениемягкая обложка
Комплекткомпакт-диск (1)
Кол-во страниц 232
Цена в интернет-магазине
431
Цена в розничном магазине
Второе издание практикума по основам измерительных технологий посвящено вопросам обработки и представления результатов измерений, а также методам и средствам измерений электрических и неэлектрических величин. Выбор этих разделов обусловлен тем, что с ними чаще всего приходится сталкиваться в учебной и производственной практике.
Ядром практикума является комплекс прикладных программ, созданный в инструментальной среде разработки приложений LabVIEW, благодаря чему лабораторные работы могут выполняться как в учебной лаборатории в рамках традиционно организованного учебного процесса, так и на собственном компьютере во время самостоятельной работы в библиотеке или дома.
Основное отличие от первого издания заключается в расширении перечня работ за счет введения главы по измерениям неэлектрических величин, а также представлении работ в виде исполняемых приложений для операционной системы Windows XP/Vista.
Лабораторный практикум создан коллективом преподавателей кафедры информационных систем Московского государственного института радиотехники, электроники и автоматики - МИРЭА на основе опыта преподавания дисциплин, связанных с изучением измерений, и практики применения LabVIEW программного обеспечения в учебном процессе.

Рецензии и отзывы на книгу "LabView. Практикум по основам измерительных технологий"

Ваш отзыв будет первым