Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия для материловедения

Код товара 2336306
АвторОикава, Синдо
Издательство Техносфера
Год выпуска2006
ISBN5-94836-064-4
Вес 370 г
Оформлениетвердый переплет
Кол-во страниц 253

Наличие в е-магазине

товар доступен под заказ только в розничных магазинах
Монография посвящена особенностям конструкции современных просвечивающих электронных микроскопов (ПЭМ), спектроскопии потерь энергии электронов (СПЭЭ), энерго-дисперсионной электроннозондовой рентгеновской спектроскопии (ЭДС), а также цифровым системам регистрации изображений, в том числе на основе цифровых ПЗС камер и системам: на основе электронно-стимулированной фотолюминесценции (IP-системам), устанавливаемых на современные ПЭМ. Даны, подробные описания аналитических методик и интерпретации полученных результатов.
В книге представлен новейший метод трехмерной томографии с помощью ПЭМ и метода ALCHEMI для анализа дефектов замещения в кристаллах. Также изложены прикладные методы для анализа магнитных материалов, метод электронной голографии.

Настольная книга материаловеда.



Рецензии и отзывы на книгу "Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия для материловедения"

Ваш отзыв будет первым