Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении

Код товара 3765405
АвторШварц
Издательство Техносфера
Год выпуска2014
ISBN978-5-94836-385-1
Вес 1,2 кг
Оформлениетвердый переплет
Кол-во страниц 648
Материал Офсет
Размер 70x100/16 (170x240 мм)
Цена в интернет-магазине
1 073
Цена в розничном магазине
Метод дифракции отраженных электронов (ДОЭ или EBSD) был разработан относительно давно на основе метода картин каналирования электронов в растровых электронных микроскопах (РЭМ), но широкое практическое применение данного метода в научных и прикладных исследованиях началось лишь в середине 90-х годов прошлого века. Развитие данного метода было неразрывно связано с успехами в компьютерной технике и высокочувствительных цифровых камер, поскольку максимальный эффект от его применения мог быть получен только при высоком быстродействии систем регистрации дифракционных картин и быстрой компьютерной обработке полученной цифровой информации. Метод дифракции отраженных электронов (ДОЭ), используемый в растровом электронном микроскопе (РЭМ) в качестве дополнительного аналитического метода, позволяет на поверхности массивных поликристаллов без труда определять ориентации отдельных зерен, локальную текстуру, корреляцию ориентаций между точками и идентифицировать фазы и двумерные распределения фаз по поверхности образца.

Рецензии и отзывы на книгу "Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении"

Ваш отзыв будет первым